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东方晶源PanGen®平台再添新成员 套刻标记优化工具PanOVL上线
引言 当半导体制造工艺演进到22nm及以下节点时,随着多重图形技术的引入,对不同工艺层之间套刻(Overlay)误差的要求变得越来越高。套刻测量技术可分为基于像面图像识别测量技术和基于衍射原理的DBO(Diffraction Based Overlay)测量技术。相比于基于图像识别的方法,基于衍射的套刻误差测量具有更好的测量结果重复性、更低的设备引起测量误差TIS(Tool Introduced
与非网编辑
1547
2024/10/23
集成电路
半导体制造
新武器上架,国产EDA独角兽秘密知多少
对于一家公司而言,其产品就像是武器,通过击中客户的痛点,而发挥自身的价值。芯华章作为一家新晋EDA头部企业,致力于EDA 2.0智能化电子设计平台的研发,加上月初刚发布的新品桦捷HuaPro P2E,两年内发布1款大平台+6款产品,已然手握一揽子武器。 芯华章这些武器到底有什么作用?所谓的EDA 2.0 又有哪些新的理念?笔者今天就带大家一探究竟。 芯华章一揽子武器介绍 想要用一揽子武器发挥效用,
与非网记者
1279
2022/12/09
芯华章科技
国产EDA
芯片行业的未来,将被苹果、谷歌等系统公司主
芯片行业正在酝酿一场全新变革,EDA 2.0是中国EDA换道超车的机会。
雷锋网
94
2021/06/18
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