LAT1269 SPI讀取數(shù)據(jù)的最后一位出錯(cuò)問(wèn)題

問(wèn)題描述

客戶在項(xiàng)目開發(fā)中使用 STM32F427ZGT6 的 SPI 連接外部 Flash 時(shí)，發(fā)現(xiàn)在常溫下能正常讀寫，但是在高溫下一段時(shí)間后(大概 5 分鐘左右)出現(xiàn)讀寫異常的情況。讀寫異常時(shí)發(fā)生在發(fā)送 0x5 指令后，返回?cái)?shù)據(jù)通過(guò)軟件讀取的是 0，而硬件抓取的是 1 。同時(shí)也發(fā)現(xiàn)同一份代碼，同樣硬件，如果 flash 換成別的廠家的，在同樣溫度條件下又沒(méi)有出現(xiàn)讀寫異常。

問(wèn)題的排查

根據(jù)客戶的描述，初期懷疑是否是不同 Flash 廠家的兼容性問(wèn)題，現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)一步測(cè)試，發(fā)現(xiàn)客戶軟件在70℃環(huán)境溫度下，除了 program、erase 時(shí)寄存器會(huì)讀錯(cuò)數(shù)據(jù)，用只讀指令 0x03 也會(huì)讀錯(cuò)數(shù)據(jù)（0x55、0xaa 會(huì)被軟件讀成 0x54、0xab）。

根據(jù)這個(gè)結(jié)果，我們懷疑到 tCLQV 這個(gè)參數(shù)。看上去當(dāng)前的軟件是在 flash 輸出數(shù)據(jù)時(shí)，在 CLK 下降沿時(shí)去采集 flash MO 數(shù)據(jù)的，所以高溫引起的細(xì)微的 tCLQV 變化可能會(huì)導(dǎo)致軟件采集出錯(cuò)。 我們建議MCU 在下一個(gè) CLK 的上升沿去采集數(shù)據(jù)，此時(shí) flash MO 數(shù)據(jù)已經(jīng)穩(wěn)定為 1。

原因的進(jìn)一步分析

進(jìn)一步了解客戶系統(tǒng)的初始化，其中 clock 配置信息如下：采用外部晶振為 25MHZ，plln=360,pllm=25, pllp=2, pllq=8，系統(tǒng)主頻： 25/25*360/2 = 180MHz，APB2: 180/2 = 90MHz，SPI 的波特率為2.8MHz。SPI 的引腳設(shè)置均為 GPIO_Initure.Speed 為 low。