晶圓測試

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  • 上市公司豪擲10億，在張江建總部！
    近日，上海市浦東新區(qū)人民政府官網(wǎng)公告顯示，偉測科技上海總部基地項(xiàng)目規(guī)劃設(shè)計(jì)方案正式披露。該項(xiàng)目坐落于上海浦東新區(qū)合慶鎮(zhèn)，建設(shè)用地面積29342.3平方米，公司自成立以來一直在上海租賃辦公場地，此次計(jì)劃購買土地使用權(quán)建設(shè)公司上?？偛炕貙⒓訌?qiáng)公司市場競爭力和綜合實(shí)力，有效降低運(yùn)營成本等。
    上市公司豪擲10億，在張江建總部！
  • 突破14nm工藝壁壘：天準(zhǔn)科技發(fā)布TB2000晶圓缺陷檢測裝備
    開啟國產(chǎn)缺陷檢測新紀(jì)元 蘇州2025年3月26日?/美通社/ -- 3月26日，蘇州天準(zhǔn)科技股份有限公司（股票代碼：688003.SH）宣布，旗下矽行半導(dǎo)體公司研發(fā)的明場納米圖形晶圓缺陷檢測裝備TB2000已正式通過廠內(nèi)驗(yàn)證，將于SEMICON 2025展會天準(zhǔn)展臺（T0-117）現(xiàn)場正式發(fā)布。 這標(biāo)志著公司半導(dǎo)體檢測裝備已具備14nm及以下先進(jìn)制程的規(guī)?；慨a(chǎn)檢測能力。這是繼TB1500突破40
  • WAT測試崗常見面試問題
    請簡述WAT測試的主要目的。WAT測試與CP測試的主要區(qū)別是什么？WAT測試在晶圓生產(chǎn)流程中的位置和作用是什么？請解釋摩爾定律對WAT測試的重要性。解釋在CMOS工藝中，WAT測試結(jié)構(gòu)的意義是什么？WAT參數(shù)的種類有哪些？各自的作用是什么？請列舉幾種常見的有源器件和無源器件WAT測試參數(shù)。為什么WAT測試結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)在劃片槽中，而不設(shè)計(jì)在芯片內(nèi)部？在WAT測試中，如何確定測試參數(shù)是否合格？WAT數(shù)據(jù)對生產(chǎn)工藝的優(yōu)化有何幫助？
    WAT測試崗常見面試問題
  • WAT測試與FT測試的區(qū)別
    把WAT測試比作在汽車生產(chǎn)線上每個工藝環(huán)節(jié)都要設(shè)置的質(zhì)量檢查站。這些檢查站會確保每一個零部件的生產(chǎn)質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)。比如，在生產(chǎn)發(fā)動機(jī)時，WAT測試相當(dāng)于檢查發(fā)動機(jī)的各個零件是否精準(zhǔn)、符合設(shè)計(jì)要求。如果某個零件不達(dá)標(biāo)，就會在這個環(huán)節(jié)被發(fā)現(xiàn)并處理。
  • CP測試和WAT測試的區(qū)別
    在集成電路的制造和測試過程中，CP測試（Chip Probing）和WAT測試（Wafer Acceptance Test）是兩個非常重要的測試環(huán)節(jié)。盡管它們都在晶圓（Wafer）階段進(jìn)行，但二者的目的、測試對象、測試內(nèi)容和作用是有顯著不同的。
    CP測試和WAT測試的區(qū)別