芯片可測性設計中的Procedural Description Language

PDL概述

PDL（Procedural Description Language，過程描述語言）是IEEE 1687（IJTAG）標準的一部分，用于描述對嵌入式器件的操作過程。它是一種高級命令語言，能夠指導器件如何生成測試模式，而不是直接描述測試模式本身。PDL的主要功能是提供一種標準化的方式來描述對嵌入式器件的操作，使得這些操作可以在不同層次的硬件結(jié)構(gòu)中被復用。

PDL的主要組成部分

操作命令（Commands）：PDL提供了多種操作命令，用于執(zhí)行對嵌入式器件的讀寫操作、時鐘控制、狀態(tài)檢查等。這些命令分為兩個級別：Level-0和Level-1。Level-0包含基本的器件操作命令，而Level-1則增加了額外的命令，支持條件邏輯、循環(huán)、分支等高級編程結(jié)構(gòu)。

過程定義（Procedures）：PDL允許用戶定義操作過程（iProc），這些過程可以包含一系列的操作命令。通過定義過程，用戶可以將復雜的操作序列封裝起來，便于復用和管理。

模塊關(guān)聯(lián)（Module Association）：PDL操作與ICL（Instrument Connectivity Language，器件連接語言）中定義的模塊相關(guān)聯(lián)。使用iProcsForModule指令，可以指定后續(xù)操作命令所針對的模塊。

DFT合集包含：

DFT概述、掃描電路、邊界掃描電路、DFT失效模型、ATPG、Mbist、Lbist、OCC、sram的結(jié)構(gòu)和原理、 Mbist向量仿真、Tessent ICL模型、Tessent PDL語言。

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PDL的作用

操作描述：PDL用于描述對嵌入式器件的操作，如讀取器件狀態(tài)、寫入控制信號、執(zhí)行測試模式等。它提供了一種標準化的方式來定義這些操作，使得不同供應商的器件和測試工具能夠以一致的方式進行交互。

測試向量生成：PDL可以生成可移植的測試向量，這些測試向量可以在不同層次的硬件結(jié)構(gòu)中被復用。通過PDL的iWrite、iRead等命令，用戶可以指定對器件的操作，而具體的控制信號生成則由工具自動完成。

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