AN4422, MPC5675K Test and Shadow Flash Parameters for ADC Self-Test, MBIST, and LBIST - Application Notes

2023/04/25 作者：恩智浦

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AN4422, MPC5675K Test and Shadow Flash Parameters for ADC Self-Test, MBIST, and LBIST - Application Notes

AN4422: The MPC5675K microcontroller offers a set of features to support functional safety applications. Memory, digital logic, and analog circuit integrity checking are part of the MPC5675K

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恩智浦半導體創(chuàng)立于2006年，其前身為荷蘭飛利浦公司于1953年成立的半導體事業(yè)部，總部位于荷蘭埃因霍溫。恩智浦2010年在美國納斯達克上市。恩智浦2010年在美國納斯達克上市。恩智浦半導體致力于打造全球化解決方案，實現智慧生活，安全連結。

恩智浦半導體創(chuàng)立于2006年，其前身為荷蘭飛利浦公司于1953年成立的半導體事業(yè)部，總部位于荷蘭埃因霍溫。恩智浦2010年在美國納斯達克上市。恩智浦2010年在美國納斯達克上市。恩智浦半導體致力于打造全球化解決方案，實現智慧生活，安全連結。收起

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