閂鎖效應(yīng)

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閂鎖效應(yīng)(Latch-up)是CMOS集成電路中一個(gè)重要的問題,這種問題會導(dǎo)致芯片功能的混亂或者電路直接無法工作甚至燒毀。

閂鎖效應(yīng)(Latch-up)是CMOS集成電路中一個(gè)重要的問題,這種問題會導(dǎo)致芯片功能的混亂或者電路直接無法工作甚至燒毀。收起

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