• 為什么有些LDO需要串聯(lián)或并聯(lián)一個(gè)二極管?在電路里有什么用?
    Part 01 前言 我們有時(shí)候會(huì)在一些電路里看到有些LDO需要串聯(lián)或并聯(lián)了一個(gè)二極管,這是為什么呢?LDO分為雙極型LDO和MOSFET型LDO,雙極型LDO因內(nèi)部寄生二極管可能導(dǎo)致?lián)p壞,需始終加裝保護(hù)二極管。MOSFET型LDO因體二極管的存在,反接電流可被部分容忍,但是反接電流過(guò)大,一樣也不行,所以當(dāng)輸入/輸出電壓反接時(shí),反向電流可能損壞LDO IC內(nèi)部結(jié)構(gòu)。為此,反接保護(hù)電路設(shè)計(jì)很重要。接
  • 芯片ATE測(cè)試綜述
    ATE(Automatic Test Equipment),即自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,在電子元器件、尤其是半導(dǎo)體芯片的生產(chǎn)制造流程中扮演著不可或缺的關(guān)鍵角色。隨著現(xiàn)代芯片集成度的不斷提高以及功能的日益復(fù)雜化,對(duì)芯片測(cè)試的要求也水漲船高,ATE憑借其高效的自動(dòng)化測(cè)試能力,不僅大幅提升了測(cè)試效率,更在確保產(chǎn)品質(zhì)量、降低生產(chǎn)成本以及縮短研發(fā)周期等方面發(fā)揮了極為重要的作用,已經(jīng)成為半導(dǎo)體制造行業(yè)不可或缺的核心設(shè)備之一。
    芯片ATE測(cè)試綜述
  • 高精LiDAR+神經(jīng)渲染3DGS的完美融合實(shí)踐
    在自動(dòng)駕駛仿真測(cè)試剛需下,數(shù)字孿生成提升保真度關(guān)鍵。本文介紹傳統(tǒng)與前沿結(jié)合的構(gòu)建流程,先通過(guò)數(shù)據(jù)采集、點(diǎn)云聚合等完成高精地圖重建,再以NeRF+3DGS實(shí)現(xiàn)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)重建,降本增效,為仿真注入真實(shí)感,重塑測(cè)試范式。
    高精LiDAR+神經(jīng)渲染3DGS的完美融合實(shí)踐
  • EFT的頻譜測(cè)量與通用診斷分析方法
    電快速瞬變脈沖群(EFT)抗擾度是一種通用性強(qiáng)、測(cè)試方便、能高效暴露風(fēng)險(xiǎn)的EMS測(cè)試項(xiàng)目——通過(guò)模擬電網(wǎng)拉弧產(chǎn)生的一系列快速高壓尖峰脈沖來(lái)評(píng)估產(chǎn)品對(duì)瞬態(tài)高壓耐受能力同時(shí)暴露產(chǎn)品對(duì)瞬態(tài)射頻電場(chǎng)的耐受風(fēng)險(xiǎn)。本文對(duì)EFT脈沖的能量和頻譜進(jìn)行了分析和實(shí)測(cè),對(duì)EFT耦合產(chǎn)生的電場(chǎng)進(jìn)行了評(píng)估,對(duì)工程中較為實(shí)用的近場(chǎng)探頭電場(chǎng)注入、直接注入進(jìn)行了介紹,并推薦利用波形發(fā)生器模擬EFT脈沖直接注入的診斷分析方法和EFT防護(hù)器件的實(shí)測(cè)方法供大家在EMC開(kāi)發(fā)中參考。
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    06/06 11:39
    EFT的頻譜測(cè)量與通用診斷分析方法
  • EMI 基礎(chǔ)知識(shí)和板級(jí)屏蔽設(shè)計(jì)
    在當(dāng)今充斥著數(shù)字電子設(shè)備的世界中,電磁干擾 (EMI) 是軍事和商業(yè)市場(chǎng)的主要關(guān)注點(diǎn)。電氣設(shè)備由于它們的存在而容易受到這些不良輻射和故障的影響。
    1062
    06/06 11:37
    EMI
    EMI 基礎(chǔ)知識(shí)和板級(jí)屏蔽設(shè)計(jì)
  • 【車(chē)內(nèi)消費(fèi)類(lèi)接口測(cè)試】 泰克賦能V-by-One HS技術(shù)在汽車(chē)電子測(cè)試領(lǐng)域的應(yīng)
    隨著智能汽車(chē)技術(shù)的飛速發(fā)展,汽車(chē)電子系統(tǒng)對(duì)高清視頻和音頻傳輸?shù)男枨蟛粩嘣黾?。V-by-One HS作為一種高性能的串行化接口技術(shù),憑借其高帶寬、低功耗和高可靠性等特點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于汽車(chē)電子系統(tǒng)中。本文將介紹V-by-One HS技術(shù)的核心特性、應(yīng)用場(chǎng)景以及泰克公司提供的測(cè)試解決方案。 V-by-One HS技術(shù)的核心特性 V-by-One HS是日本賽恩電子公司(THine)獨(dú)立開(kāi)發(fā)的專(zhuān)用于視頻信
    【車(chē)內(nèi)消費(fèi)類(lèi)接口測(cè)試】  泰克賦能V-by-One HS技術(shù)在汽車(chē)電子測(cè)試領(lǐng)域的應(yīng)

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