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• 為什么有些LDO需要串聯(lián)或并聯(lián)一個(gè)二極管？在電路里有什么用？

  Part 01 前言 我們有時(shí)候會(huì)在一些電路里看到有些LDO需要串聯(lián)或并聯(lián)了一個(gè)二極管，這是為什么呢？LDO分為雙極型LDO和MOSFET型LDO，雙極型LDO因內(nèi)部寄生二極管可能導(dǎo)致?lián)p壞，需始終加裝保護(hù)二極管。MOSFET型LDO因體二極管的存在，反接電流可被部分容忍，但是反接電流過(guò)大，一樣也不行，所以當(dāng)輸入/輸出電壓反接時(shí)，反向電流可能損壞LDO IC內(nèi)部結(jié)構(gòu)。為此，反接保護(hù)電路設(shè)計(jì)很重要。接

  硬件那點(diǎn)事兒

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  06/26 16:58

  LDO
• 芯片ATE測(cè)試綜述

  ATE（Automatic Test Equipment），即自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，在電子元器件、尤其是半導(dǎo)體芯片的生產(chǎn)制造流程中扮演著不可或缺的關(guān)鍵角色。隨著現(xiàn)代芯片集成度的不斷提高以及功能的日益復(fù)雜化，對(duì)芯片測(cè)試的要求也水漲船高，ATE憑借其高效的自動(dòng)化測(cè)試能力，不僅大幅提升了測(cè)試效率，更在確保產(chǎn)品質(zhì)量、降低生產(chǎn)成本以及縮短研發(fā)周期等方面發(fā)揮了極為重要的作用，已經(jīng)成為半導(dǎo)體制造行業(yè)不可或缺的核心設(shè)備之一。

  志芯

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  06/26 09:51

  芯片測(cè)試 ATE

  

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